Agilent/HP/8509C/光偏振分析儀

詳細資料：

AGILENT 8509B光波極化分析儀可對光信號或光器件進行校準過的極化測試。 這些功能是建立在硬件、軟件和算法革新性突破的基礎之上的.8509B可提供包括極化狀態測試、極化模式色散測試、極化相關損耗測試和極化保偏光纖對準等功能。

特點：

1.對光信號和光器件進行**的極化狀態分析

2.兩種PMD分析方法：波長掃描法和JONES矩陣法

3.極化保偏光纖的對準

Agilent 8509C光偏振分析儀覆蓋L波段，可對光信號和元件進行寬工作范圍的測量。自動的測量步驟簡化了PMD、PDL和保偏光纖對準。對于10至40Gb/s測試，8509C可測量至0.01ps的偏振模式色散。對光信號和材料偏振特性的快速和準確的測量可幫助開發更高性能的光元件和系統，以及低成本的制造流程。

性能特性

? 波長工作范圍： 1280 nm 至 1640 nm ? 分辨率： 1 fs ? 偏振狀態測量速率： >3500 ∕秒 ? PMD 測量范圍： 0.01 ps (10 fs) 至 400 ps (取決于設置條件)

庫

技術指標： 8509C 技術指標 1.6 MB 小冊子： 需要測試 40 Gb/s 4.5 MB 產品指南：自動的在線消光比測量 467 KB

 

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